115 警察特考三等 刑事鑑識人員類別 物理鑑識 考古題詳解

核心觀念

本題考查金屬打刻造成的塑性變形與晶格扭曲，以及利用化學蝕刻辨識打刻區與周圍金屬的差異。打刻號碼即使表面被磨除，若下方受變形的金屬層仍存在，仍可藉由差異蝕刻使原號碼顯現；若該變形層已被完全移除或破壞，則無法以此法還原。

（一）號碼位置、拍照與潛伏痕跡原理

常見位置與拍照方式

機車引擎號碼通常打刻於引擎本體曲軸箱等金屬平面或較平整區域，常見於曲軸箱外側；實際位置會因廠牌、車型與引擎設計而異，應依車種檢視引擎本體及其周邊。

取證時宜依序拍攝：

1. 全景照：呈現機車整體及引擎所在位置。
2. 中景照：呈現引擎本體與受檢區域的相對位置。
3. 近照：清楚呈現磨除、重打刻痕跡及金屬表面狀態，並放置比例尺與案件識別標示。
4. 近照應使相機鏡頭大致垂直於受檢面，確保比例尺與表面位於同一平面；另可用不同方向的斜射光呈現刮痕、凹凸及打刻痕跡。避免反光遮蔽細節，並保留處理前影像。

塑性變形與晶格扭曲

打刻號碼時，打刻工具將金屬局部壓入，使字模下方及周圍金屬產生塑性變形。塑性變形是材料受力超過彈性範圍後，卸載仍留下永久變形；其微觀結果包括晶粒形狀改變、晶格扭曲、位錯密度增加，以及局部殘留應力與加工硬化。

砂輪磨除的是表面金屬。若磨除深度未達原打刻造成的變形區深處，字模下方仍可能留有與周圍金屬不同的微觀組織、位錯密度、硬度或殘留應力。這些差異不一定能以肉眼直接看見，但會使該區對化學蝕刻的反應速度不同。適當蝕刻後，原字模位置因表面高低或反光差異而呈現對比，形成可辨識的潛伏痕跡。

偽造重打刻可能產生另一組變形痕跡；鑑識人員須觀察顯現出的痕跡形狀、排列及其與已知打刻特徵的關係，避免將後打刻痕跡誤認為原號碼。

（二）化學蝕刻法、配方、機制與極限

操作步驟

1. 記錄與檢視：先拍攝處理前照片，記錄受檢面材質、磨除狀態及既有痕跡。
2. 表面整備：依實驗室程序去除油污與污染物；必要時以細緻方式整平受檢面，避免過度研磨而再度移除潛伏變形層。
3. 配製試劑：依經驗證的實驗室程序配製適用於該金屬的 Fry’s Reagent。

（一）鋼製車門彈孔的射入、射出方向

核心觀念

子彈穿過薄金屬板時，會使孔緣沿彈道方向產生塑性變形。判讀時要比較車門兩側孔口的形狀與翻捲方向，並檢查孔緣是否有彈頭擦顯痕；不能只看單側彈孔的外觀。

解題方法

• 漏斗狀變形（funneling effect）：通常彈孔在射入面較小、孔緣較平整；金屬板背面則因彈頭推擠、拉伸而向外翻捲，形成較大的漏斗狀開口。漏斗較寬的一側通常是射出側，窄的一側則通常是射入側。
• 擦顯痕／彈頭刮擦跡（bullet wipe／lead rim）：彈頭進入孔洞時，表面的鉛、銅、潤滑物或污垢可能擦留在射入面孔緣，形成暗色環狀或弧狀痕跡；這類擦痕支持該側為射入面。擦痕未必完整，也不一定肉眼可見。
• 綜合判讀：若一側孔口較小且有彈頭擦痕，另一側金屬明顯向外翻捲、開口較大，則前者判為射入側、後者判為射出側。再將車門內外方向與車身位置對照，判斷子彈是由車外射入車內，或由車內射向車外。

限制與陷阱

彈頭斜向撞擊、彈頭變形、車門曲面、金屬厚度及硬度、孔洞遭二次破壞，都會改變孔緣形狀或使擦痕不明顯。若彈頭曾先撞擊其他物體，也會影響其穿孔表現。因此應檢視車門兩面及彈道軸線，並與彈頭、彈殼、車內外血跡及其他彈孔位置交互比對；單憑一項特徵不宜定論。

（二）頭部射入口、射出口與衣物纖維

核心觀念

射入口與射出口的典型差異，來自彈頭進入組織與穿出組織時造成的組織受力、撕裂和翻捲方向。傷口外觀是判斷依據之一，還須合併頭骨內外板斜面、彈道、射擊距離與衣物痕跡判讀。

射入口的典型特徵

• 傷口通常較規則，圓形或橢圓形；斜向入射時可呈橢圓形。
• 邊緣多向內翻捲，周圍常見由彈頭擦過造成的擦傷環（abrasion collar），並可有挫傷環。
• 近距離或接觸射擊時，入口周圍可能有火藥煙垢、火藥顆粒造成的擦傷、燒灼或槍口印痕；

（一）靜電足跡採取器的物理原理

核心觀念

靜電足跡採取器（Electrostatic Dust Lifter, EDL）利用高電壓建立電場，使輕微、乾燥的灰塵足跡轉移到特製金屬化薄膜上。它適用於磁磚、木地板等表面上的乾燥粉塵痕跡；本題的灰塵鞋印可先以側光顯現，再以 EDL 採取。

EDL 的關鍵不是把鞋印「壓印」到薄膜，而是以靜電力吸附灰塵，使其從原表面移到薄膜，形成可保存與拍攝的轉印影像。轉印通常呈鏡像，因此須記錄原印跡方向。

電場與顆粒轉印

高壓電源使金屬化薄膜帶電，並與接地金屬電極共同形成電場。電場作用於薄膜與地面間的微粒，可使顆粒極化或帶電；當靜電吸引力大於顆粒與地面間的附著力時，微粒便離開原表面，附著到薄膜上。薄膜貼近地面，也有助於減少空隙、讓微粒轉移。

若以簡化關係表示，電場力可寫成 $F=qE$，其中 $q$ 是顆粒電荷量，$E$ 是電場強度。對未帶淨電荷但可極化的顆粒，電場也能產生誘導極化與吸引作用。電場強度與電極配置、間距及施加電壓有關；在相同配置下，提高電壓通常會增強電場，但須依儀器規格與製造商操作程序控制。

電壓極性與電極排列

1. **正、負極性：**薄膜的帶電極性由機型設計決定，現場應依儀器端點標示及原廠程序連接。電場可使微粒極化或帶電後受到吸引，因此不能把「必須使用正電」或「必須使用負電」當成所有 EDL 的通則。若將高壓端與接地端接反，或未按機型配置操作，可能影響採取效果並造成安全風險。

2. **金屬化薄膜與接地電極：**常見操作是將特製薄膜覆在印跡上，再依儀器設計將高壓探頭接觸薄膜的金屬層，並將接地電極或金屬板放在薄膜附近。電極距離與空間配置影響電場分布；金屬板不可任意貼住薄膜或地面，應按機型程序放置。

3. **灰塵的移動與轉印：**薄膜受電後形成靜電吸引，乾燥粉塵從地面移至薄膜。薄膜的黑色面通常朝向印跡，以增加轉印後的反差；實際朝向仍依薄膜種類及儀器程序確認。

解題方法

本題可按「電場建立 → 微粒受力 → 克服附著 → 薄膜承接並形成轉印」說明。作答時須交代高壓、電極配置與微粒轉移的關係，並指出極性及接線依機型規格決定，避免把特定機型的操作方式說成唯一原理。

（二）深色磁磚現場操作與保存

搜尋與採取步驟

1. **先保護現場並評估痕跡：**依現場動線建立管制區，先處理可能受人員踩踏或清洗影響的區域。避免在疑似鞋印上走動、放置器材或吹氣。

2. **以側光搜尋：**以斜射光從不同方向照射深色磁磚，觀察微弱灰塵鞋印及其延伸痕跡。對找到的痕跡先標示位置與方向，不接觸印跡。

3. **先拍照記錄：**採取前拍攝現場定位照、近照及比例尺照，至少留有未放比例尺及放置比例尺的影像。相機感光面盡量與地面平行，比例尺靠近印跡且不遮擋痕跡；側光方向與拍攝條件應記錄。需要時拍下印跡與周遭環境的相對位置。

4. **準備薄膜與儀器：**依印跡大小裁切乾淨、足以完整覆蓋印跡的金屬化薄膜。戴乾淨手套，避免手指碰觸印跡面或薄膜有效面；確認儀器、導線、探頭及接地電極外觀完整，依原廠程序檢查電力與功能。

核心觀念

本題考查複雜基質中的微物跡證辨識與物理分離。微物跡證是體積小、容易轉移或流失，須靠放大觀察、篩分或其他物理方法找出的材料；宏觀微物則是肉眼可辨、但仍容易被環境碎屑掩蓋或混入其中的較大跡證。本題所述「比重浮選法」的核心是利用材料密度與液體密度的差異，使不同材料沉降、懸浮或浮起，再分層採取。

解題方法

（一）可搜尋的微觀與宏觀微物跡證（5 分）

搜尋時應同時注意可直接辨認的碎片，以及需經篩選、放大或檢驗才能確認的微物：

• **生物性跡證：**骨骼碎片、牙齒及琺瑯質碎片、毛髮、軟組織或皮膚碎片；若有衣物，亦可尋找人體血液、體液或組織殘留。
• **纖維與衣物材料：**天然或人造纖維、紗線、布料碎片、縫線及衣物上的染料、塗層或裝飾材料。
• **環境及轉移跡證：**木屑、植物碎片、泥土、砂粒、冰雪或融水殘留，以及附著於人體、衣物或機具表面的油漆、金屬、玻璃等異物。
• **工具與機具相關跡證：**碎木機刀片或機具表面的金屬磨屑、潤滑油、油漆轉移物，以及可能留在碎片上的切削、撞擊或摩擦痕跡。

辨識時應記錄材料的顏色、形狀、尺寸、層次、附著位置及相互關係。單一纖維或碎片通常不能獨立證明來源，須與對照樣本及其他證據綜合比對。

（二）物理分級篩分與密度分離（12 分）

分離流程的原則是先以較低干預方式按尺寸分級，再依材料性質選擇適當的密度分離條件；各級篩上物、篩下物及浮沉層均須分開保存、標記並保留來源資訊。

1. **先記錄及分樣：**對混合物拍照、稱重並記錄採集位置；在乾淨、可回收的容器中處理。若材料含冰雪或濕潤泥土，先記錄其原始狀態，避免直接加熱、強力沖洗或劇烈攪拌，以免破壞脆弱組織、改變附著關係或造成跡證流失。
2. **以篩網按尺寸分級：**由粗至細使用一系列已清潔的篩網，輕柔篩分。較粗級可先挑出可辨認的骨片、牙齒及布料碎片；較細級則集中收集微小骨屑、纖維與毛髮。每級篩上物及篩下物分別封存，不可混回原樣。
3. **先目視檢視、再選擇分離介質：**使用放大鏡或立體顯微鏡檢視各級材料，記錄並挑取已可辨認的跡證。密度浮選須依目標材料及基質選用經驗證、與跡證相容的液體及密度條件；不同材料的密度範圍會重疊，不能只憑一次浮沉結果就判定材質或來源。
4. **利用浮沉差異分層：**在液體中，材料所受浮力與自身重量的差異決定其浮沉。當材料密度低於液體密度時傾向上浮，高於液體密度時傾向下沉；密度接近液體者可停留於液體中或緩慢沉降。實務上依序收集浮層、懸浮層及沉積層，並保留各層的處理紀錄。