108 高普考高考三級 核子工程 輻射度量 考古題詳解

108 年・高普考・高考三級・核子工程
試題代碼 輻射度量

第 一 題15 分

(一) 何謂中子活化?(5 分)

(二) 以 1.00 μg1.00\ \mu\text{g} 的天然鈷作成薄片試樣,在熱中子束通量密度 Φ=1.00×1013 n cm−2s−1\Phi=1.00\times10^{13}\ \text{n cm}^{-2}\text{s}^{-1} 中照射 1,000 s1{,}000\ \text{s} 後,可獲得 2.00×1092.00\times10^9 個 60Co{}^{60}\text{Co} 原子。

已知天然鈷中 100%100\% 為 59Co{}^{59}\text{Co}。若以熱中子進行中子捕獲反應 59Co(n,γ)60Co{}^{59}\text{Co}(n,\gamma){}^{60}\text{Co},請問其反應截面積 σ\sigma 值為多少?請以邦(barn)表示之。

(59Co{}^{59}\text{Co} 之原子量 AA 為 58.958.9。)(5 分)

(三) 今將 59Co{}^{59}\text{Co} 置入反應爐經中子活化兩年,取出後再經過衰退半年,試問其活度剩為飽和活度之多少百分比?(已知 60Co{}^{60}\text{Co} 之半衰期 T1/2=5.26T_{1/2}=5.26 年。)(5 分)

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核心觀念:​中子活化是物質中的原子核吸收中子後,經核反應生成放射性核種的現象。新生成的放射性核種會依其衰變方式放出輻射,因此可藉由量測其活度或放射線能譜,辨識試樣中的元素或分析其含量。

本題的反應為

59Co+n⟶60Co+γ{}^{59}\mathrm{Co}+n\longrightarrow{}^{60}\mathrm{Co}+\gamma

其中穩定的 59Co{}^{59}\mathrm{Co} 捕獲一個中子後生成放射性的 60Co{}^{60}\mathrm{Co}。

(二)求反應截面積

核心觀念:​薄片試樣在定值中子通量密度中照射時,若忽略靶核消耗及中子自屏蔽,生成核種數可用活化方程表示:

Nact=N0σΦ1−e−λtλN_{\mathrm{act}}=N_0\sigma\Phi\frac{1-e^{-\lambda t}}{\lambda}

其中 N0N_0 為靶核初始數目、σ\sigma 為反應截面積、Φ\Phi 為中子通量密度、tt 為照射時間,λ\lambda 為生成核種的衰變常數。

解題方法:​題目未提供 60Co{}^{60}\mathrm{Co} 的半衰期供本小題使用,依活化截面積計算採用照射期間衰變可忽略的近似,即 λt≪1\lambda t\ll1,故 1−e−λtλ≈t\frac{1-e^{-\lambda t}}{\lambda}\approx t。因此

Nact≈N0σΦtN_{\mathrm{act}}\approx N_0\sigma\Phi t

天然鈷全為 59Co{}^{59}\mathrm{Co},初始靶核數為

N0=mANA=1.00×10−6 g58.9 g mol−1(6.022×1023 mol−1)=1.02×1016N_0=\frac{m}{A}N_{\mathrm A} =\frac{1.00\times10^{-6}\ \mathrm{g}}{58.9\ \mathrm{g\,mol^{-1}}} (6.022\times10^{23}\ \mathrm{mol^{-1}}) =1.02\times10^{16}

解出截面積:

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第 二 題15 分

(一) 試問數位矽光電倍增器(Digital SiPM)是如何組成的?(10 分)

(二) 其優劣點如何?其缺失應如何加以改善?(5 分)

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核心觀念

本題考查數位矽光電倍增器(Digital Silicon Photomultiplier, Digital SiPM)的結構,以及它相較於傳統類比式光電倍增器與類比矽光電倍增器的優缺點。核心在於:Digital SiPM 將大量單光子雪崩二極體(SPAD)與數位讀出電路整合於晶片上,直接記錄光子偵測事件。

解題方法

先由入射光到輸出訊號,說明元件的組成與訊號流程;再依「偵測效能、積體化、讀出與校正」整理優缺點及改善方式。

(一) Digital SiPM 的組成

  1. SPAD 陣列:由大量微小 SPAD 像素組成。SPAD 操作於崩潰電壓以上的蓋格模式(Geiger mode);單一光子在感測區引發雪崩後,輸出近似固定幅度的電脈衝,因此每個 SPAD 可視為單光子偵測元件。

  2. 淬熄與復歸電路:每個 SPAD 或每組 SPAD 配有淬熄電路。雪崩發生後,電路降低偏壓以停止雪崩,經過恢復時間後再將偏壓恢復至操作值,使 SPAD 能偵測下一個光子。

  3. 數位讀出電路:雪崩脈衝經像素內或鄰近電路轉為數位事件訊號,並由計數器、閘控電路或時間數位轉換電路記錄事件數與發生時間。多個像素的數位訊號可彙整後輸出。

  4. 控制與介面電路:晶片通常還包括偏壓控制、像素啟用或停用、溫度或工作狀態控制,以及資料讀出介面。部分設計也能將各 SPAD 的事件直接送入共享的數位邏輯。

其基本訊號流程為:

入射光子→SPAD 雪崩→淬熄與復歸→數位事件計數/時間標記→資料輸出\text{入射光子} \rightarrow \text{SPAD 雪崩} \rightarrow \text{淬熄與復歸} \rightarrow \text{數位事件計數/時間標記} \rightarrow \text{資料輸出}

因此,Digital SiPM 的輸出通常是光子事件的計數或時間資訊,而非先將所有像素的類比電流相加後再讀出。

(二) 優缺點與改善方式

優點

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第 三 題20 分

吾人進行輻射度量時,重要且常用之閃爍晶體有:碘化鈉 NaI(Tl)\text{NaI}(\text{Tl})、碘化銫 CsI(Tl)\text{CsI}(\text{Tl}) 與鍺酸鉍(BGO)等晶體。請就上述三種晶體,針對下列參數特性分別加以說明並比較之:

(一) 輻射能量範圍。

(二) 能量解析度。

(三) 相對發光效率。

(四) 衰減時間。

(五) 工作環境。

(每小題 4 分,共 20 分)

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核心觀念

本題比較三種常用無機閃爍晶體的探測性能與使用條件。閃爍體吸收輻射能量後發出光,光訊號經光電倍增管或光感測器轉成電訊號;晶體的發光效率、光收集與電子學雜訊,會影響能量解析度與計數能力。

能量解析度通常以光電峰的半高全寬表示:

R=FWHME0×100%R=\frac{\mathrm{FWHM}}{E_0}\times 100\%

其中 E0E_0 為光電峰能量。RR 越小,越能分辨能量相近的光子。相對發光效率則以 NaI(Tl) 作為基準,設為 100%。

解題方法

依題目列出的五項參數逐項比較。數值採常見室溫、伽馬射線量測的典型值;實際結果會受晶體品質、尺寸、摻雜、光感測器與讀出設定影響。尤其「輻射能量範圍」不是晶體具有固定的最低或最高能量界限,應從可用的輻射種類、能區與吸收能力說明。

參數NaI(Tl)CsI(Tl)BGO
輻射能量範圍可測 X 射線至伽馬射線,常用於低能至中高能伽馬能譜;低能端須注意晶體外殼與封裝吸收可測 X 射線與伽馬射線;適用範圍與 NaI(Tl) 相近,且有較高密度可測 X 射線與伽馬射線;高密度、高有效原子序數使其對高能伽馬射線的吸收效率較佳,適合高能光子或需縮小體積的探測器
能量解析度良好;137Cs^{137}\mathrm{Cs} 的 662 keV 光電峰常約為 6–8%通常略差於 NaI(Tl),常約為 8–10%通常較差,常約為 10–15%
相對發光效率100%,基準約 40–50%約 10–20%
衰減時間約 230–250 ns,快約 0.8–1.0 μs,三者中最慢約 300 ns
工作環境易潮解,須密封防潮;晶體較軟,需妥善保護微潮解,防潮要求低於 NaI(Tl),但仍宜封裝;機械強度較高不潮解,化學與機械穩定性佳,適合較嚴苛環境;密度高、體積可做得較小

(一) 輻射能量範圍

三者都能用於 X 射線及伽馬射線偵測,並非各自只能量測單一能量範圍。實際可測能區也會受到封裝材料、晶體厚度、光收集效率與電子學閾值限制。

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第 四 題20 分

【圖形】(文字擷取結果未包含,請參考原卷)

下圖為二種偵檢器之 X 光能譜圖。

(一) 請計算此二偵檢器之能量分辨率各為何?(8 分)

(二) 試問使用此二偵檢器於乳房攝影檢查,各有何優缺點?(6 分)

(三) 試問使用此二偵檢器於電腦斷層攝影,各有何優缺點?(6 分)

🖼️ 本題原卷含圖表。基於試題來源之版權考量,本站不轉載原卷影像; 題目文字已完整轉錄,圖表請自行參閱考選部公告之試題原檔。

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核心觀念

能量分辨率表示偵檢器分辨相近能量光子的能力,通常以光電峰的半高全寬(FWHM)除以峰值能量表示:

R=FWHMEpeak×100%R=\frac{\mathrm{FWHM}}{E_{\mathrm{peak}}}\times100\%

RR 越小,能量分辨能力越好。圖中沒有標出精確數據點,因此以下依座標軸估讀,數值為近似值。

解題方法與計算

在每條能譜曲線的峰高處取一半,讀出曲線與半高線的兩個交點;兩交點的能量差就是 FWHM。再以峰值能量代入分辨率公式。

偵檢器 #1:​由圖估讀峰值約為 60 keV60\ \mathrm{keV},半高位置約在 4545 與 75 keV75\ \mathrm{keV}:

FWHM1≈75−45=30 keV\mathrm{FWHM}_1\approx75-45=30\ \mathrm{keV} R1≈3060×100%=50%R_1\approx\frac{30}{60}\times100\%=50\%

偵檢器 #2:​由圖估讀峰值約為 67 keV67\ \mathrm{keV},半高位置約在 5050 與 85 keV85\ \mathrm{keV}:

FWHM2≈85−50=35 keV\mathrm{FWHM}_2\approx85-50=35\ \mathrm{keV} R2≈3567×100%≈52%R_2\approx\frac{35}{67}\times100\%\approx52\%

偵檢器 #1 的相對峰寬較小,因此能量分辨能力略佳。因原圖是曲線圖而非數據表,讀值及計算結果應視為近似值。

乳房攝影的優缺點

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第 五 題15 分

今有一能量 100 kV100\ \text{kV} 之 X 光射入 CsI(Tl)\text{CsI}(\text{Tl}) 數位影像屏內。已知該 CsI(Tl)\text{CsI}(\text{Tl}) 之能譜尖峰位於 92 kV92\ \text{kV} 時之能量解析度為 5.5%5.5\%,且其發光效率為 82.5%82.5\%,產生可見光之能量約為 2.8 eV2.8\ \text{eV}。

(一) 試問該 CsI(Tl)\text{CsI}(\text{Tl}) 影像屏能量尖峰之全寬半高值(FWHM)為多少?(5 分)

若該可見光進入光電倍增管(PMT)後,因受溫度影響約損失 22%22\% 之效率,又其電信號轉換率為 77.2%77.2\%。

(二) 試問該倍增管可產生多少光電子數?(5 分)

(三) 試問整體系統能量解析度(system energy resolution)為多少?(5 分)

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核心觀念

本題考查閃爍體能量解析度與光子統計的關係。能量解析度定義為能譜尖峰的全寬半高值與尖峰位置之比:

R=FWHMER=\frac{\mathrm{FWHM}}{E}

閃爍體的光發射具有統計波動;若產生並被偵測的光電子數為 NpeN_{\mathrm{pe}},其統計能量解析度為:

Rstat=2.355NpeR_{\mathrm{stat}}=\frac{2.355}{\sqrt{N_{\mathrm{pe}}}}

其中 2.355=22ln⁡22.355=2\sqrt{2\ln 2},是將高斯分布的標準差換算為全寬半高值的係數。

解題方法

(一)已知 92 keV92\ \text{keV} 時的能量解析度為 5.5%5.5\%,依定義計算:

FWHM=RE=0.055×92 keV=5.06 keV\mathrm{FWHM}=R E =0.055\times92\ \text{keV} =5.06\ \text{keV}

(二)入射 X 光能量為 100 keV100\ \text{keV}。其中 82.5%82.5\% 轉為可見光;每個可見光光子的能量為 2.8 eV2.8\ \text{eV}。PMT 因溫度影響損失 22%22\% 效率,故保留效率為 78%78\%;電信號轉換率為 77.2%77.2\%。因此光電子數為:

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第 六 題15 分

今有一輻射偵檢器,在距離 40 m40\ \text{m} 處即能測得經 22 半值層(HVL)包覆、強度為 5 mCi5\ \text{mCi} 之遺失銫-137 射源。

(一) 試問該輻射偵檢器之靈敏度為何?(已知該射源之加馬常數為 $3.3\ \text{R-m}^2/\text{Ci}\cdot\text{h}。)(10 分)

(二) 針對上述用途,應選擇何種類之輻射偵檢器?理由為何?(5 分)

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核心觀念

本題考查點射源的距離平方反比定律、半值層的衰減,以及偵檢器的最低可偵測劑量率(靈敏度)。將「在某距離可測得射源」視為偵檢器至少能辨識該射源在該處造成的曝光率;兩個半值層會使光子強度依序減半兩次。

解題方法

未加屏蔽時,點射源在距離 rr 處的曝光率為

X˙=ΓAr2,\dot X=\frac{\Gamma A}{r^2},

其中 Γ=3.3 R⋅m2/(Ci⋅h)\Gamma=3.3\ \mathrm{R\cdot m^2/(Ci\cdot h)} 為銫-137 的加馬常數,AA 為活度,rr 為距離。

題目給定活度 A=5 mCi=5×10−3 CiA=5\ \mathrm{mCi}=5\times10^{-3}\ \mathrm{Ci}、距離 r=40 mr=40\ \mathrm{m}。經 22 個半值層後,穿透強度為原來的

(12)2=14.\left(\frac12\right)^2=\frac14.

因此偵檢器在該距離測得的曝光率為

X˙=ΓAr2(12)2=(3.3)(5×10−3)402×14 R/h=2.578125×10−6 R/h≈2.58×10−6 R/h.\begin{aligned} \dot X &=\frac{\Gamma A}{r^2}\left(\frac12\right)^2\\ &=\frac{(3.3)(5\times10^{-3})}{40^2}\times\frac14 \ \mathrm{R/h}\\ &=2.578125\times10^{-6}\ \mathrm{R/h}\\ &\approx 2.58\times10^{-6}\ \mathrm{R/h}. \end{aligned}

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