109 警察特考三等 刑事鑑識人員 物理鑑識 考古題詳解

核心觀念

本題考聲譜圖（spectrogram）的定義、時頻解析度，以及如何運用圖上的聲學特徵比對語音。聲譜圖是把聲音訊號分段分析後，呈現「時間、頻率、能量」三者關係的圖形：橫軸通常為時間，縱軸為頻率，顏色或灰階深淺表示各頻率成分的能量大小。

語音訊號會隨時間改變，分析時常使用短時傅立葉轉換（Short-Time Fourier Transform, STFT）。將訊號切成一段段短時間窗，對每段計算頻譜，再把各段頻譜依時間排列，即可形成聲譜圖。其基本表示式為：

其中 $x[n]$ 是離散聲音訊號，$w[\cdot]$ 是分析窗，$H$ 是相鄰分析窗的移動間距；$|X(m,\omega)|$ 或其平方表示該時間與頻率位置的幅度或能量。

解題方法

作答可依序掌握三個層次：先說明聲譜圖如何由聲音訊號產生，再比較寬頻與窄頻分析的解析度取捨，最後列出可供鑑識比對的語音及聲學特徵。寬頻與窄頻的差別，核心在分析窗長短：短窗保留較佳時間解析度，長窗保留較佳頻率解析度。

（一）何為聲譜圖及如何產生？（5 分）

聲譜圖是語音訊號的時頻表示圖，顯示不同時刻所含各頻率成分及其相對強度。一般以橫軸表示時間、縱軸表示頻率，能量則以灰階深淺或色彩呈現；能量較強的頻率成分通常顯示得較深或較亮，視繪圖慣例而定。

產生方式如下：

1. 將錄音轉為數位訊號，必要時先做去噪、濾波或正規化等前處理。
2. 以分析窗將訊號切成彼此重疊的短時間片段。
3. 對每一片段計算傅立葉頻譜，取得該時刻各頻率成分的幅度或能量。
4. 依各片段的時間位置排列頻譜，並以灰階或色彩顯示能量，形成聲譜圖。

（二）寬頻聲譜圖與窄頻聲譜圖的差異（10 分）

寬頻與窄頻聲譜圖主要是分析窗長度不同所造成的時頻解析度差異。短分析窗提供較佳時間解析度，但頻率解析度較差；長分析窗則提供較佳頻率解析度，但時間上的細節較模糊。這是時頻分析的取捨。

核心觀念

本題考查物理鑑識中「以不同成像原理觀察、比較微物證」的能力。顯微鏡不只用來放大；不同儀器能呈現證物的外觀、表面形貌、光學性質或元素組成，應依證物特性選用。常見微物證包括毛髮、纖維、油漆、玻璃、土壤礦物、金屬碎屑、火藥殘留及微小工具痕跡。

作答時，至少列舉五種顯微鏡，並對每種說明兩件事：成像原理與適用的微物證及鑑識目的。

解題方法

可依顯微鏡使用的訊號分類，再逐項配對：

1. 可見光成像：利用透射光或反射光觀察外觀、形態及層次。
2. 偏振或螢光成像：利用材料的光學各向異性、雙折射或螢光反應辨識差異。
3. 電子束成像：利用電子與樣品交互作用取得高倍率表面影像，或分析元素組成。

以下列舉七種，已超過題目要求的五種。

各類顯微鏡的原理與鑑識用途

核心觀念

本題要以物證相互印證檢驗嫌犯說法：兩顆彈殼是否由同一枝槍擊發、扣案模擬槍是否能擊發該類彈藥、屋頂疑似彈孔是否由彈丸造成，以及現場是否存在支持「實際發射彈丸」的痕跡。

「一人一槍」與「使用不具殺傷力的模擬槍」是兩項不同主張，須分別查證。兩顆彈殼不能單獨證明有兩枝槍，也不能只因扣案槍枝外觀像模擬槍，就認定它無法發射彈丸。

涉及法規者，以命題當年（民國 109 年）法規為準。依當時《槍砲彈藥刀械管制條例》第 4 條，槍砲的判斷與能否發射金屬或子彈並具有殺傷力有關；「不具殺傷力」須由槍枝與彈藥的檢驗結果判斷，不能僅依嫌犯說法或物品名稱認定。

解題方法

一、現場勘察與證物保全

先記錄現場全景、局部與比例尺照片，標示兩顆彈殼及屋頂疑似彈孔的位置、方向和相對距離，並記錄周遭可能的撞擊點、落彈區域、遮蔽物與逃逸路線。彈殼及疑似彈孔應分別包裝、標示，避免刮擦或混放；完整記錄採證、封緘與移交過程。

屋頂彈孔須檢查孔緣變形、金屬翻捲、擦痕、附著物及入口、出口特徵，判斷是否為彈丸撞擊或穿透造成。必要時以現場幾何關係、彈孔方向及可用的軌跡工具重建射擊方向，搜尋屋頂內側、地面、牆面及周邊可能的彈頭或碎片。沒有找到彈頭，不等於沒有發射彈丸：彈頭可能穿出、反彈、碎裂或落在未搜索區域。

二、檢驗兩顆彈殼

先分別檢視彈殼的口徑、底火與彈底痕跡、彈底標記、殼口及彈殼側面的工具痕，判斷其是否為已擊發彈殼、彈藥種類，以及能否與扣案槍枝相容。

再以比較顯微鏡，比對兩顆彈殼上的個別化痕跡，尤其是擊針痕、槍機面痕、抽殼鉤痕與拋殼挺痕。若相符，可支持兩顆彈殼由同一枝槍擊發；若不相符，則不支持同槍發射，但仍須考量痕跡保存狀況、彈殼變形及可供比較特徵是否充分。彈殼外觀或口徑相同，只能說明有相似性，不能單獨證明出自同一枝槍。

三、檢驗扣案模擬槍及試射比對

對扣案槍枝拍照、編號並檢查其外觀、構造、槍管、彈膛、擊發機構及是否有改造或損壞痕跡；確認其使用的彈藥種類及槍枝能否正常完成擊發。若依法及安全條件允許，依鑑定程序以適用彈藥試射，收集試射彈殼；再將試射彈殼與現場兩顆彈殼作比較顯微鏡比對。

核心觀念

文書的紙張、墨水、印刷材料及遭處理部位，對不同波段或方向的光線會有不同的反射、吸收、穿透與螢光反應。檢驗時可依序比較一般可見光、斜射光、透射光、紫外光及紅外光下的影像，找出肉眼不易辨認的文字、墨色差異、擦刮痕跡或化學處理區域。

解題方法

1. 一般可見光檢視 先在均勻照明下觀察全文，記錄文字排列、字體、墨色、行距及局部不連續處，並以未受影響區域作為比較基準。這是後續特殊光源檢驗的對照。

2. 斜射光（側光） 使光線以低角度照射紙面，並從不同方向觀察。紙面刮擦、擦拭、折痕、壓痕及筆畫凸起會形成陰影或反光差異。

• 適合發現橡皮擦除、刮除、紙面磨損及壓痕。
• 改變光線方向，有助於分辨真正的表面起伏與單純墨色差異。

3. 透射光 由紙張背面照光，觀察光線穿過紙張後的明暗與均勻程度。

• 紙張遭刮薄、擦薄、撕裂或局部補貼時，透光程度可能不同。
• 水印、折痕、紙張厚薄差異及局部纖維損傷也可能更清楚。
• 須與未處理區域比較，以免將紙張原有差異誤認為破壞痕跡。

4. 紫外光 紫外光照射文書後，觀察紙張或墨水的螢光反應。不同紙張、墨水及化學處理部位的螢光強弱或顏色可能不同。

• 可用來發現隱沒文字、不同墨水或局部化學處理區域。
• 化學消除或漂白可能造成紙張螢光反應異常，與周圍區域形成對比。
• 紫外光反應只提供差異線索，須與其他檢視結果交互比對。

5. 紅外光 紅外光下，不同墨水可能呈現不同程度的吸收或反射；有些可見光下顏色相近的墨水，在紅外影像中會呈現不同深淺，有些墨水則可能變淡或消失。

• 可協助區分重疊或添加的墨水，並顯示被表面墨跡遮蓋的文字。
• 搭配不同波段或濾鏡觀察，可比較文字與紙張的反射差異，尋找遭覆蓋的原有內容。

6. 綜合比對 對同一部位依序拍攝不同光源下的影像，記錄光源、方向及觀察結果，再與未受影響處比較。特殊光源下顯現的差異，應和紙面形貌、墨水特徵及文字內容互相印證，不宜只憑單一光源直接判定曾遭偽變造。

解題技巧

可用「表面看起伏、背光看厚薄、紫外看螢光、紅外看墨水差異」記憶各光源的主要用途。斜射光與透射光偏重紙張及表面痕跡，紫外光與紅外光偏重材料反應及墨水差異；實務上以多種光源交叉檢視，判斷較可靠。

（二）判斷文書上各類文字筆畫的先後順序

核心觀念