113 高普考高考三級 統計 統計學 考古題詳解
第 一 題80 分
人工智慧的興起,帶動了市場對晶片需求量的飆升,也連帶促成相關產業的蓬勃發展。已知國內有某家公司專門生產晶片半導體製程中使用的圓形光罩。今由此公司之生產線隨機抽檢 筆光罩樣本並測量其半徑。
若已知因某些特定原因造成該公司測量儀器不精準,測量之觀測值會有誤差,令 表其觀測誤差。假設觀測誤差 彼此相互獨立,且服從平均數為 、變異數為 之常態分配,並令 為此圓形光罩的真實半徑。
令變數 為此 筆樣本之半徑的觀測值,則
令 為變數 之累積分配函數(cumulative distribution function)。
(每小題 10 分,共 80 分)
(一) 求出機率
(二) 求出條件機率
(三) 假設 和 皆未知,請利用觀測值 求出此光罩半徑 之最大概似估計量(maximum likelihood estimator)。
(四) 假設 和 皆未知,請利用觀測值 求出此光罩面積 之均勻最小變異不偏估計量(uniformly minimum variance unbiased estimator)。
(五) 假設 和 皆未知,請求出光罩半徑 之信賴水準 的信賴區間。
(六) 若該公司有兩條獨立作業的生產線,且已知此兩條生產線所生產之光罩的瑕疵率皆為 。令變數 為第 條生產線上檢測產品直到檢測出第一個瑕疵品前所需的檢測(良品)次數,,請求出機率
(七) 續題(六),令變數 代表取 之最小值,請求出 之機率密度函數 。
(八) 求出題(七)之變數 的期望值 。
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核心觀念
本題結合常態母體推論與幾何分配。由 且 ,可得 且各觀測值相互獨立。令 ,則 服從 上的均勻分配(機率積分轉換)。
以下以幾何分配的慣例 表示瑕疵品出現前檢測到的良品數,並令 為良品率。
(一) 求
令 、。則 為相互獨立的 隨機變數。除機率為零的 外,
在單位正方形 中,對 積分:
答案: 。
(二) 求
仍令 、。條件 的機率為 。給定 時,因 ,有 。因此
連續分配下 ,故嚴格不等號不影響結果。
答案: 。
(三) 求 的最大概似估計量
解題方法: 的平均數為 ,而 為位置參數。透過常態概似函數最大化,可先估計 ,再扣除誤差平均數 。
概似函數為
固定 ,最大化概似函數等同最小化平方和。對 微分並令其為零:
解得 。此估計同時也是 兩參數聯合概似的最大化解。
答案: 。
(四) 求 的均勻最小變異不偏估計量
核心觀念: 為常態母體樣本, 是母體平均數與變異數的完全充分統計量,其中 對完全充分統計量的任何不偏函數,依 Lehmann–Scheffé 定理,即為均勻最小變異不偏估計量(UMVU)。
因 ,
又 ,所以
因此 是 的不偏估計量,且是完全充分統計量的函數,故為 UMVU。
答案:
第 二 題20 分
臺灣量子國家隊已成軍 5 年,去年突破技術瓶頸,成功自製出 5 量子位元之超導量子電腦,象徵著臺灣的量子時代來臨。已知團隊開發的量子電腦有一個核心元件,此核心元件是由三個電路組件串聯及並聯構成。
令變數 分別代表此三個電路組件的壽命。此核心元件是先由第一及第二個電路組件串聯後,再和第三個電路組件並聯而成,因此整個核心元件的壽命是
此處 代表取 之最大值, 代表取 之最小值。假設此三個電路組件的壽命彼此相互獨立,皆服從具有平均數為 之指數分配。
(每小題 10 分,共 20 分)
(一) 求出變數 之機率密度函數 。
(二) 求出變數 之變異數 。
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核心觀念
串聯系統的壽命是各組件壽命的最小值;並聯系統的壽命是各支路壽命的最大值。本題因此先令
平均數為 的指數分配,其速率參數為 ,故
利用組件彼此獨立,可先求 的分配,再由 的累積分配函數求密度與變異數。
解題方法
對 ,
因此 為速率 的指數分配,且因 只由 決定,與 獨立。
,所以
(一)機率密度函數
對累積分配函數微分,並納入 的非負支撐集:
(二)變異數
由上式可得存活函數