113 專技高考高等考試 工業工程技師 工程統計與品質管理 考古題詳解
第 一、 題30 分
一、工程統計估計與檢定:
(一) 隨機抽出 位學生參加英文測驗,其成績平均 分,變異數 分,假設數學測驗分數呈常態分配,試求變異數之 的信賴區間。(16 分)
(二) 某高中體育室,今自該校學生隨機抽取 位學生,經計算其平均身高為 公分,標準差 公分。設顯著水準為 ,試檢定該高中體育室宣稱其學生平均身高高於 公分是否屬實?(14 分)
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核心觀念
母體分配為常態且母體變異數未知時,樣本變異數 滿足
因此,母體變異數 的雙尾 信賴區間為
其中 表示自由度 的卡方分配第 分位數。
解題方法
題目給 、樣本變異數 ,信賴水準為 ,故 ,自由度為 。平均數 分不會用於母體變異數的區間估計。
查卡方分配表:
代入公式:
解題技巧
估計變異數時,卡方區間的分母分位數次序容易寫反:區間下限使用較大的卡方分位數,區間上限使用較小的卡方分位數。如此可確保下限小於上限。
(二)單一母體平均數的右尾檢定
第 二、 題24 分
二、日本科技聯盟歸納出的一套品質管制工具,稱新品管七大手法有別於傳統的品管七大手法中:
(一) 請寫出新品管七大手法名稱。(14 分)
(二) 運用直方圖進行產線資料分析,下圖 1、2、3 分別都是在產線製程穩定下各自分開蒐集三個產線部門數據,各自分開繪製直方圖,圖 1 為產線製程穩定下圖示。請說明圖 2 及圖 3 當初蒐集數據時發生何種狀況導致出現這樣的圖示,而不是出現如圖 1 的樣態。(10 分)
🖼️【此處有附圖,請對照原卷】
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核心觀念
本題考查新品管七大手法的名稱,以及直方圖的分布形狀與資料蒐集、分層方式之間的關係。直方圖呈現資料的次數分布;若資料來自不同來源或不同條件,卻合併繪圖,形狀可能偏離單一穩定製程常見的單峰分布。
解題方法
(一)新品管七大手法
日本科技聯盟所歸納的新品管七大手法為:
- 親和圖法(KJ 法)
- 關聯圖法
- 系統圖法
- 矩陣圖法
- 矩陣資料解析法
- 過程決策計畫圖法(PDPC)
- 箭線圖法
(二)圖 2、圖 3 的資料蒐集狀況
圖 2:偏態型分布,右側長尾。 資料集中在較小的數值一側,往較大的數值方向逐漸拖尾,屬於正偏態。
第 三、 題16 分
三、某油封內徑變化蒐集 組樣本,每組樣本大小為 ,經統計資料得:
請計算出平均數管制圖的管制上限及下限,全距管制圖的管制上限及下限。(16 分)
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核心觀念
本題考查以樣本平均數與樣本全距建立 管制圖及 管制圖。每組樣本大小為 ,故使用 對應的管制圖係數:
管制界限公式為:
其中 為各組樣本平均數的總平均, 為各組樣本全距的平均。
解題方法與計算
先依樣本大小 查得 、、,再代入題目提供的 與 。
一、平均數管制圖
第 四、 題18 分
四、技高家具桌面厚度規格為 ,而製程中實際厚度平均數 、標準差 ,請計算 、、 值各為多少。(18 分)
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核心觀念
本題考驗程能力指標的計算與解讀。規格為 ,因此:
- 規格中心
- 上限規格
- 下限規格
- 製程平均數
- 製程標準差
各指標定義如下:
衡量製程平均數偏離規格中心的程度; 衡量製程變異相對於規格寬度的大小; 則同時考慮製程變異及平均數偏移。
解題方法
一、計算
規格半寬為:
平均數距離規格中心 ,故:
二、計算
第 五、 題8 分
五、雙次抽樣計畫中,=第一次抽樣的樣本大小、=第一次抽樣的允收數、=第一次抽樣的拒收數、=第二次抽樣的樣本大小、=第二次抽樣的允收數、=第二次抽樣的拒收數。請解釋當 、、 與 、、 時之抽樣計畫操作判定允收或拒收之過程,假設第一次檢驗不良品數為 、第二次檢驗不良品數為 。(8 分)
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核心觀念
雙次抽樣計畫先檢查第一批樣本,依第一次的不良品數 決定立即允收、立即拒收,或再抽第二批。若需第二次抽樣,則以兩次樣本合計的不良品數 ,與第二次的允收數 、拒收數 比較,作最後判定。
其中,允收數是判定允收的上限;拒收數是判定拒收的門檻。介於第一次允收與拒收界線之間時,進入第二次抽樣。
解題方法
本題參數為 ,以及 。依序判斷如下:
- 第一次抽取 件,檢驗得到不良品數 。
- 若 ,允收該批。
- 若 ,拒收該批。
- 若 ,即 或 ,第一次結果未達允收或拒收界線,須再抽第二批。
- 若進入第二次抽樣,再抽 件,檢驗得到不良品數 。將兩次樣本的不良品數合計為 :
第 六、 題4 分
六、影響量測系統精確度為那兩個元素。(4 分)
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核心觀念
量測系統的「精確度」著重量測結果的一致性,主要由兩個變異來源構成:
- 再現性(Repeatability):同一位作業者使用同一量具,對同一工件在相同條件下重複量測,結果之間的變異。
- 再生性(Reproducibility):不同作業者使用同一量具,對同一工件量測,結果之間的變異。
在量測系統分析中,兩者合稱 Gage R&R,用來評估量測系統的精確度變異。
解題方法